規格
- 檢測下限：Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm,Pb≤5ppm,Cl≤20ppm
- 設備尺寸：640(W)×474(D)×412(H)
- 重量：50kg
- X射線管：靶材/Mo 管電壓/0～50 kV 管電流/最大1～1000 μA，鈹窗厚度200m
- 檢測器：Si(PIN)半導體高靈敏度檢測器標準配置(149+-5eV)，檢測晶體厚度：500um，檢測靈敏面積：6mm2，Si(PIN)半導體高靈敏度檢測器標準配置(149+-5eV)，檢測晶體厚度：500um，檢測靈敏面積：6mm2，Be窗厚度：1mil ，美製高壓電源50KV1mA，最大輸出功率50W，（RSD<0.05%)
- 濾光片：採用專利設計的複合濾光片系统，對所檢測的微量元素具有較高的激發效率和最低的本底，盡最大可能降低微量元素檢出線
- 分析時間：50-400S（系統可自動調整）
- 樣品定位系統：N
- 系統控制：N
功能及配備
- 分析元素：Na-U任意元素，可以檢測無鹵元素Cl和Br，除RoHS所關切之Pb,Cd,Hg,Cr及玩具指令測試需求 外，用戶可根據自身需求進行二次開發，建立適應自己需求的特定檢測曲線，擴展儀器的適用範圍。
- 配 備：可加購金屬膜厚測試軟體
- 保固期限：一年整機保固
- 軟體升級：軟體免費升級
